Расчёт ошибок определения координат источника радиоизлучения

На основе полученных данных рассчитаем энергию принятых на РП-ах сигналов, используя выражение (3):

= 5.835∙10-14•3•10-6=17.5∙10-20 Втc

=1.149∙10-13•3•10-6=34.5∙10-20 Втc

Спектральная плотность шума имеет следующее численное значение:

= 1.38•10-23•4.4•300=1.8∙10-20 Втc

Таким образом, для вычисления отношения сигнал/шум получены все численные значения. Тогда, подставляя их в выражение (2), получим:

= =3.1 ;

= =4.35 ;

Отношение сигнал/шум было найдено нами для того, чтобы в последствии определить среднеквадратическое отклонения (СКО)

Но сначала определим характеристику радиопеленгаторов 1-го и 2-го -вероятность правильного обнаружения РП-ов 1 и 2-D и D :

= ;

= ;

А теперь вычислим - СКО измерения пеленга и СК значение погрешности измерения разности времён запаздывания:

= ;

C∙ ==3∙1083∙10-5•1.8∙10-20/34.5•10-20=0.47км;

= = 1.56c;

Ψ=arcsin((d∙sinΘ)/)=arcsin((50sin45)/44.6)=52.40

На основе полученных численных значений и найдем и ―СКО измерения линий положения 1 и 2:

=ra=62.6км =169•10-2км

=/(2∙sin(ψ/2))= (0.47)/(2∙sin(52.4/2))=53.2•10-2 км

Теперь непосредственно перейдем к расчету параметров эллипса

.

Определим угол отклонения от биссектрисы из угла ,который является углом пересечения линий положения v :

V=arctg (11)

можно определить при помощи приведенного выше рисунка.

= Ψ/2=52.40/2=26.20

Зная , можем найти v ,подставив значение в выражение (11)

Другие стьтьи в тему

Разработка и изготовление лабораторного стенда по изучению вольтамперных характеристик полупроводниковых диодов
Целью данной работы является разработка и создание прибора, предназначенного для изучения полупроводниковых диодов. Для исследования нами был выбран полупроводниковый диод, который наиболее характерно отражает почти все особенности и свойства полупроводниковой техники в целом и являе ...

Разработка шлирен–проектора для контроля объективов
Оптический контроль основан на анализе взаимодействия оптического излучения с объектами контроля. В качестве объектов контроля могут служить материалы и изделия, технологические процессы и параметры окружающей среды. Для получения измерительной информации об объекте контроля использ ...